Bỏ qua nội dung chính

Hội Đá Quý Việt Nam

Trang chủ / Tin tức – Sự kiện / Ứng dụng phổ kế huỳnh quang tia X (ED-XRF) trong xác định hàm lượng nguyên tố vết của Spinel

Ứng dụng phổ kế huỳnh quang tia X (ED-XRF) trong xác định hàm lượng nguyên tố vết của Spinel

calendar_today 12/02/2025 •person TS. Lê Minh Tuấn

Phương pháp không phá hủy mẫu giúp xác định chính xác tỷ lệ Crom, Sắt, Kẽm trong Spinel Quỳ Châu và các nguồn gốc khác.

Ứng dụng phổ kế huỳnh quang tia X (ED-XRF) trong xác định hàm lượng nguyên tố vết của Spinel

ED-XRF cho phép đo thành phần nguyên tố mà không làm tổn hại mẫu vật.

Nghiên cứu đo 180 mẫu spinel từ Quỳ Châu, Lục Yên và mẫu đối chứng nhập khẩu. Tỷ lệ Cr/Fe và hàm lượng Zn cho thấy sự phân tách rõ giữa các nhóm nguồn gốc.

Sai số phép đo nằm trong ngưỡng chấp nhận được của tiêu chuẩn kiểm định, đủ tin cậy để bổ sung vào hồ sơ chứng thư.

Phương pháp phù hợp triển khai đại trà nhờ thời gian đo ngắn và không cần chuẩn bị mẫu phức tạp.

0 0 đánh giá
Đánh giá bài viết
Theo dõi
Thông báo của
guest
0 Góp ý
Cũ nhất
Mới nhất Được bỏ phiếu nhiều nhất
0
Rất thích suy nghĩ của bạn, hãy bình luận.x